正畸的分析法(正畸常用测量数值)

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正畸矫治有哪些分析测量方法？

1.X线头影测量

X线头影测量主要是X线头颅定位照像所得的影像，然后将牙颌、颅面各标志点描绘出来，形成一定的线距和角度进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，伎牙颌、颅面的检查、诊断，由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来x线头影测量一直成为口腔正畸和口腔正颌外科临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。主要应用范围是：

(1)研究颅曲生长发育。

(2)牙颌、颅面畸形的诊断分析。

(3)确定错颌畸形的矫治设计。

(4)研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。

(5)外科正畸的诊断和矫治设计。

(6)下颌功能分析。

头影测量的分析方法有几十种之多，其中常用的硬组织分析法包括有：Twed三角分析法、WyUe分析法、唐斯分析法、修勒分析法、科本分析法和四边形分析法等，软组织分析法有磨石和一些与美观有关的测量项目。如E线、H线、软组织面平面，以及Twed方法中的Z角等。

2.全颌曲面断层片

全颌曲面断层片是正畸常用的检查手段之一，通过全颌曲面断层片，医生可全面观察全口牙齿发育情况及上下颌骨情况。如果患者是处在乳牙期(3-6岁),可观察乳牙牙根的发育情况。牙根是否发育完成，牙根是否有弯曲畸形，是否有继承恒牙胚及恒牙胚的位置，是否有多生牙，先天缺失牙等。如就诊患者处在替牙期(6-11岁),也就是乳牙陆续脱落，恒牙陆续萌出期，可通过曲面断层片观察到乳牙根的吸收情况、恒牙胚的存在及萌出情况。看牙根是否己发育完全，如果牙冠己萌出，而牙根尚未发育完成，此时进行正畸治疗，会影响恒牙根的正常发育。替牙期儿童的多生牙、或者先天缺失牙也可以通过此观察到。此外，还可了解到牙周组织的健康状况，是否有根尖周的炎症、牙周炎等。是恒牙期患者（乳牙全部换完后),照全颌曲面断层片，可了解到智齿（也就是人们常说的一颗大牙)的萌出情况，可观察智齿的恒牙胚存在与否或是否萌出，其萌出位置是否正。如果萌出位置不正常则可经常出现疼痛、肿胀等症状，可到医院就诊拔除。上颌窦的发育情况，是否有病理改变，髁状突和下颌体的发育情况等均可通过全颌曲面断层片观察到，所有这些对患者的诊断、治疗均有重要的临床意义。因此，正畸时X光摄片是必不可少的。

3.牙颌石膏模型

牙颌石膏模型可以对牙齿、牙弓进行分析测量以及咬合关系的排牙试验分析等，这有助于对错颌畸型的患者进行诊断及矫治设计。其主要用途有三项：(1)作为研究诊断，通过模型观察，了解病人的牙齿、牙弓，牙槽骨的情况，作为诊断依据；

(2)确定治疗方案，通过对模型的观察分析确定治疗计划和设计治疗方案；

(3)治疗过程中作为对照观察。一般取3-4副模型，治疗前一副，治疗中1-2副阶段模型、治疗结束后一副完成模型。通过这几副模型的前、中、后对比，了解治疗的效果，牙齿的排列情况，牙弓长、宽的变化，颌曲线的变化等，便于提高检查、诊断、治疗的准确性。而且从模型上观察牙齿、牙弓、咬合关系，与口腔检查相比有更便利与准确的特点。因此，正畸前，制作牙颌石膏模型是十分必要的。

4.模型测量有以下的内容和作用：(1)牙冠宽度的测量用分规或游标卡尺测量第一恒磨牙之前，牙弓内各个牙齿宽度，相加之和即为牙冠总宽度。

(2)牙弓弧形长度的测量用黄铜丝一段，分别从上下第一恒磨牙近中接触点开始，沿牙之接触点及前牙之切缘，达到对侧第一恒磨牙近中接触点为止，是一弧形线，测量其长度，即为牙弓现有的弧形长度。

(3)牙弓拥挤度牙冠宽度之和与牙弓弧形长度之差，即为牙弓拥挤度。牙弓拥挤度的测量为正确选择矫治方法提供了依据，如拔牙矫治等。

(4)牙弓宽度的测量一般测量3个位置的距离：前段为尖牙牙尖间距离；中段为第一双尖牙中央窝间的距离；后段为第一恒磨牙中央窝的间距。

(5)牙弓长度的测量以左右第一恒磨牙远中接触点间连线为底，由中切牙近中接触点向连线作垂线为牙弓总长度。

(6)基骨测量分为基骨长度和宽度两方面。基骨长度是用一种特制仪器，测量中切牙唇侧黏膜移行皱壁处牙槽骨之最凹点到第一恒磨牙远中接触点连线之垂直距离。基骨宽度是测量左右第一双尖牙额侧移行皱壁处牙槽骨最凹点间的距离。通过对以上6项测量，了解患者的牙弓形态、人小及拥挤度，以便对患者的错颌矫治进行正确的诊断设计和治疗。

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